尹勇生

　　姓名：尹勇生　　性别：男　　出生年月：1973　　职称：副教授　　学院：电子科学与应用物理学院　　研究方向：　　超大规模集成电路设计、混合信号系统设计、可重构计算技术　　简历　　2011/1-2013/12，国家自然科学基金面上项目：A/D转换器伪随机噪声注入数字校准技术之快速收敛性研究（61076026），主持。　　2009/1- ，新品研制项目：高速D/A转换器，主持。　　2006/1- ，部委预研项目：高速数模转换器技术研究，主持。　　2007/1-2007/12，部委预研基金：传感器测量电路中的低功耗设计技术研究，主持。　　2004/7-2006/2，国家自然科学基金项目：动态可重构SoC中数据通讯问题的研究，参加。负责建立系统计算模型、结构模型和执行模型，搭建系统环境（含1个32位的类MIPS核）。　　2004/3-2004/6，项目：通用USB接口芯片的开发，主持。负责系统级设计和验证，通过FPGA验证。　　2003/5-2003/9，合肥市科技计划项目：IP软核PCI产业化应用——硬盘数据安全芯片，参加。负责全部验证、测试，以及部分设计、综合工作，已流片成功。相关项目：AD总线多次复用型PCI接口芯片，已作为安徽省科学技术研究成果，获得安徽省科学技术进步三等奖。　　2002/5-2002/10，部委项目：算术协处理器的设计和生产，参加。负责逻辑模拟和测试工作，已流片成功。　　2001/10-2002/3，项目：容栅式数显量仪ASIC芯片的改版开发，主持。负责版图设计和验证以及逻辑验证工作，已流片成功。　　研究方向　　超大规模集成电路设计、混合信号系统设计、可重构计算技术　　教学工作　　研究生专业课：超大规模集成电路综合　　获奖情况　　论文获奖1项（2007全国高性能计算学术年会最佳论文提名奖）；　　省级科学技术奖三等奖1项（第四排序）；　　合肥市科学技术二等奖1项（第四排序）。　　主要论著　　1．Yong-Sheng YIN, Li LI, Ming-Lun GAO, et．al．On the Implementation of Virtual Array Using Configuration Plane．Advanced Parallel Processing Technologies, 7th International Symposium (APPT2007), 199-208.　　2．Yong-Sheng YIN, Hong-Hui DENG, Cong LIU, et．al．A 14-bit 130-MSPS Current-steering CMOS DAC with 2×FIR Interpolation Filter．2007 7th International Conference on ASIC (ASICON2007), 703-706.　　3．尹勇生，胡永华，高明伦．基于过采样技术CDR析及应用．应用科学学报,2006,24(3):240-244.　　4．尹勇生，刘聪，高明伦．A New Approach to PLA for Single Clock CMOS．Journal of electronics(China), 2006, 23(1): 157-160.　　5．许居衍，尹勇生半导体特征循环与可重构芯片嵌入式系统与应用，2005，（2-3）：2-4，（4）：2-5．　　6．尹勇生，高明伦，杜高明等．MPRS:一种面向计算密集型应用的多流水可重构计算系统．2007年全国高性能计算学术年会, 172-181.　　7．尹勇生，高明伦，邓红辉等．多流水可重构阵列的结构设计．高性能计算技术, (12):20-25.　　8．尹勇生，陈志明，邓红辉等．基于Verilog-AMS的VCO噪声建模．现代电子技术，30（24）：166－168.　　9．尹勇生，高明伦，邓红辉等．一种新的产生可控长度测试码的BIST结构．2007中国计算机大会.　　10．尹勇生，李丽，高明伦.基于多流水线的可重构系统.微电子学与计算机，2005，22（10）：88-92．　　11．尹勇生，胡永华，周干民.PCI扩展ROM机制的实现方法.计算机工程与应用，2005，41（10）：100-103．　　12．尹勇生，胡永华，周干民.PCI总线接口的验证平台及测试图形生成.电子测量与仪器学报（增刊），2004，18：300-305．　　13．刘涛，尹勇生，王晓娟一种带备用电源切换的线性稳压器设计电子测量与仪器学报，2007，21（4）：93－96　　14．Liang Shangquan, Gao Minglun, Yin Yongsheng, et．al．A 14-bit 320MSPS Segmented Current-steering D/A Converter for High-speed Application4th．IEEE International Symposium on Electronic Design, Test & Application 　　(DELTA2008), 111-114.