技术简介： 本申请公开了一种薄膜厚度和折射率的测量方法，包括激光光束经过色散透镜形成色散光，色散光入射至样品，并获取色散光经过所述样品表面反射后形成的光谱共焦信号；根据光谱共焦信号获取样品的上…… 查看详细 >
技术简介： 本发明涉及一种阶梯形光电传感器阵列高灵敏度的光栅尺，包括平面光源以及垂直平面光源的照射方向并沿平面光源的照射方向依次排列的光学透镜、标尺光栅、光电传感器阵列，其中，所述光电传感器阵…… 查看详细 >
技术简介： 本发明涉及基于纵横转换放大光栅尺的图像处理方法及其应用，方法包括以下步骤1)对光栅图像进行预处理，重构栅线；2)在重构的栅线上增加虚拟斜线，将栅距方向的细分转到栅线长度方向，调节放大倍…… 查看详细 >
技术简介： 本实用新型公开了一种基坑位移监测装置，包括底座、升降杆和光线处理装置，所述升降杆的一端固定安装于所述底座上，所述光线处理装置可拆卸且旋转安装于所述升降杆的另一端。本实用新型在对基坑…… 查看详细 >
技术简介： 本实用新型是一种基于近场电纺直写技术的光栅尺制造装置。光栅尺制造装置包括有XY平面运动平台（1）、Z轴运动导轨（2）、纺丝喷针（3）、注射器（4）、注射泵（5）、高压电源（6）、高压电源控…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种便携式光栅尺主尺刻画器及其刻画方法，该刻画器包括第一电磁铁、支撑杆、精密注射泵、X轴直线导轨、Y轴直线导轨、控制系统、高压直流电源、转盘、伸缩系统以及第二电磁铁，X轴…… 查看详细 >
技术简介： 本发明涉及光学长度测量领域，具体涉及基于纵横转换放大细分的宏微复合光栅尺测量系统，基于纵横转换放大细分的宏微复合光栅尺测量系统，包括光栅尺、可相对光栅尺相对移动的宏微读数系统和计数…… 查看详细 >
技术简介： 本发明是一种高精密光栅尺快速测量装置及其测量方法。测量装置包括有CMOS/CCD传感器阵列、光学放大系统、平行光光源、带有绝对式编码和增量式编码的绝对式光栅尺、指示光栅尺、对射传感器、FPGA…… 查看详细 >
技术简介： 本发明是一种绝对式光栅尺的防振读码装置。包括有用于采集绝对光栅条纹和校正增量条纹的CMOS/CCD传感器阵列、带微透镜阵列的光学放大系统、用于辅助校正振动方向和测量的带有绝对式编码和校正增…… 查看详细 >
技术简介： 本发明是一种基于近场电纺直写技术的光栅尺制造装置及其方法。光栅尺制造装置包括有XY平面运动平台（1）、Z轴运动导轨（2）、纺丝喷针（3）、注射器（4）、注射泵（5）、高压电源（6）、高压电…… 查看详细 >
技术简介： 本发明是一种绝对光栅尺辅助安装和误差补偿方法。包括如下方式：(1）安装CMOS传感器和光栅尺尺身时，CMOS传感器读取上下两个采样窗口，由于光栅尺尺身和CMOS传感器存在夹角，上下两个窗口数将存…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种透视测量树脂基复合材料构件内部离面位移场分布的装置及方法。该装置是设计迈克尔逊多表面干涉的光学系统，在参考臂端引入一个双表面光楔，形成光楔和被测树脂基复合材料内部反…… 查看详细 >