X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00101311]一种基于top-k分块的加权近邻二值模式识别方法

交易价格: 面议

所属行业:

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN202010311823.1

交易方式:

联系人:

所在地:

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本发明提供一种基于top-k分块的加权近邻二值模式识别方法。本发明首先采集红外指静脉图像,通过双线性插值方法将获得的红外指静脉原始图像进行尺度归一化,再将归一化后的图像等分成M×N块,图像块的大小为,,建立图像单位分块内的编号矩阵,然后根据得到的编号矩阵构建水平特征矩阵和竖直特征矩阵,以此对图像进行遍历编码,得到最终的WNBP特征图像;获得每块分块的特征匹配值;最后进行top-k的分块匹配策略,筛选出最终用于比对匹配的块。本发明方法能够更好提取相邻像素之间灰度关系,能够避免将一些产生干扰的参考方向引入比对过程,从而造成不必要的性能损失,排除噪声干扰,从而提升整体识别性能。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467