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[00101399]一种古斯-汉欣位移量计算方法

交易价格: 面议

所属行业:

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN202011637470.0

交易方式:

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服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本发明公开一种古斯-汉欣位移量计算方法,包括步骤:S1、建立有限表面带隙拓扑绝缘体多层结构的模型;S2、确定入射介质中的四元向量和边界条件;S3、使用传递矩阵法求得有限表面带隙拓扑绝缘体多层结构的传输矩阵;S4、根据传输矩阵求得电磁波从真空入射到有限表面带隙拓扑绝缘体多层结构的反射系数矩阵;S5、利用固定相位法根据反射系数矩阵计算出古斯-汉欣位移。本发明采用固定相位法,计算出有限表面带隙拓扑绝缘体多层结构的古斯-汉欣位移,能够准确地分析有限表面带隙拓扑绝缘体多层结构的古斯-汉欣位移特性,能够准确地反映出入射电磁波的偏振态,入射角,有限带隙拓扑绝缘体的带隙宽度,层数,层厚等参数对古斯-汉欣位移特性的影响。

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