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[00101867]杂质检测模型的训练方法、检测方法、设备和介质

交易价格: 面议

所属行业:

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN202110405271.5

交易方式:

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服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本申请涉及杂质检测模型的训练方法、检测方法、设备和介质,训练方法包括:将含有杂质的训练样本输入待训练的神经网络,得到训练样本的杂质位置的输出结果,其中训练样本包括杂质的已知位置信息和已知光学信号,输出结果包含训练样本的杂质的预测位置和预测光学信号;将预测光学信号和预测位置进行分类,得到第一概率分布;将杂质的已知位置信息和已知光学信号进行分类,形成已知杂质的已知分类数据,并将已知分类数据进行one-hot编码,得到第二概率分布;利用第一概率分布和第二概率分布,计算损失函数;调整神经网络的网格参数以缩小损失函数。神经网络稳定性强,准确性强。

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