[00106670]面向高分辨率应用的镜像综合孔径微波辐射计
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技术详细介绍
针对微波辐射计空间分辨率不足的瓶颈问题,申请人团队独辟蹊径,提出了镜像综合孔径微波辐射测量的概念、原理及方法,在相同天线口径条件下,可将被动微波逼感的空间分辨率提升3倍以上.
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针对微波辐射计空间分辨率不足的瓶颈问题,申请人团队独辟蹊径,提出了镜像综合孔径微波辐射测量的概念、原理及方法,在相同天线口径条件下,可将被动微波逼感的空间分辨率提升3倍以上.
