交易价格: 面议
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类型: 非专利
技术成熟度: 通过小试
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本发明适用于微波器件调试技术领域,提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统,包括:根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标,获取与所述第一调试指标对应的响应函数;获取基于所述响应函数确定的响应参数的值;基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标,结束所述待调试的微波器件的调试。所述方法由于能为不同的微波器件提供不同的响应函数,以进行对不同微波器件调试的仿真,使得不用再利用微波器件实物进行调试学习,所以能够大大的降低学习成本。
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