[00011098]LED灯具的老化和温度试验方法和装置
技术详细介绍
本发明提供了一种LED灯具的老化和温度试验方法和紫外LED老化装置，可用于LED灯具在高低温条件下进行老化。
主要功能：
一种LED灯具的老化和温度试验方法，可用于LED灯具在高低温老化条件下进行老化。紫外LED老化装置可老化任意波长紫外LED，可有效地将紫外线转化成人眼可见的光线并避免紫外线对人体的伤害。
应用领域或范围：
LED老化、LED灯具老化、紫外LED老化。
技术先进性和创新点：
已经申请专利：
1.一种LED灯具的老化和温度试验方法，发明专利，号码：201010278914.6；
2.一种紫外LED的老化装置，实用新型，号码：201020519561.X，已授权。
将LED灯具老化与高低温环境测试同时进行，整个过程分为：（a）将大功率LED灯具在高温a1摄氏度、电压U1伏下工作t1小时；（b）将大功率LED灯具在常温a2摄氏度、电压U2伏下工作t2小时；（c）将大功率LED灯具在低温a3摄氏度、电压U3伏下工作t3小时；（d）测试LED灯具的光衰及色坐标，将光衰或色坐标变化较大的LED灯具剔除；过程（a）-（d）总耗时小于96小时。本发明的有益效果是：将老化与高低温试验同时进行，减少了时间，加快了生产速度。
本方案充分考虑了工作温度对LED的影响，将老化与高低温试验同时进行，减少了时间，加快了生产速度。
