[00011569]多功能芯片检测装置
技术详细介绍
一种多功能芯片检测装置，包括一机架及供芯片放置的芯片平台，还包括：检测光路模块、光路倒置机构和控制接口系统；所述的光电检测模块中的检测光路在芯片平台的上方，且所述的光路切换开关的反射镜在光路中时，可以完成阵列芯片的共聚焦扫描；所述的光电检测模块中的检测光路在芯片平台的下方时，且所述的光路切换开关的反射镜在光路中时，可以完成微流控芯片的激光诱导荧光检测；所述的光电检测模块中的检测光路在芯片平台的上方，且所述的光路切换开关的反射镜移出光路时，可以完成阵列芯片的CCD扫描；本发明适用范围广，检测光路调整灵活，数据处理由计算机自动完成。
已进入中试阶段。
应用领域
可应用于生命科学的分子领域、微生物检测领域、医学检测领域和化学分析领域
主要技术指标情况：
可以完成阵列芯片的共聚焦扫描；微流控芯片的激光诱导荧光检测；阵列芯片的CCD扫描。检测光路调整灵活；数据处理由计算机自动完成。
知识产权及已应用情况（如申请专利请注明专利号）
在审发明专利：
多功能芯片检测装置.授权专利号：ZL200610024484.9
合作方式：技术入股
