[00111747]航空航天电子设备空间辐射环境可靠性模型
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技术详细介绍
空间辐射环境诱发敏感器件产生单粒子效应、总剂量效应、位移损伤效应,会导致卫星、飞机等航空航天器产生软故障和硬故障,大大降低了产品任务过程中的可靠性、安全性和完成任务的能力,现有的可靠性设计方法未考虑空间辐射环境对可靠性的定量影响,进而导致现有产品出现可靠性的过设计或欠设计问题,带来安全性和经济问题。本成果在基于失效物理和统计的基础上,原创性的提出并建立了空间辐射环境可靠性定量分析模型,可对空间辐射环境的危害进行定量的分析,将其纳入到现有的可靠性分析体系中。 本成果适用于航空航天电子设备抗辐射效应可靠性设计,已经在航空航天的重点工程中进行应用。 本成果已经获得IEEE RAMS 2016年第62届可靠性与维修性年会的“R.A.Evans/P.K.McElroy Award”唯一最佳论文奖。这是自1954年起62年以来首次纯中国机构获此国际IEEE RAMS最高奖项。
