[00111998]基于全反射镜的二维光谱测量装置及测量方法
联系人：
所在地：
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种基于全反射镜的二维光谱测量装置,包括：分束挡板、方形柱体四面反射镜、第一延时反射镜、第二延时反射镜、第三延时反射镜、第四延时反射镜、空间滤波器、衰减片、第一凹面反射镜、样品、第二凹面反射镜、挡光板和光谱测量装置,本发明无透射元件,故没有透射带来的色散效应和窄光谱限制,同时消除了光束延时调节时所带来的光束移位问题,使得装置更加紧凑,稳定,可以在很宽的光谱范围内进行光谱探测。在同一装置上还可以同时探测样品的泵浦-探测光谱,用于二维光谱的相位校正。
