[00144160]4X密度磁光盘光学特性测试系统
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技术详细介绍
该测试系统能够精确地测试4X密度磁光盘的成品盘预格式信息，跨道信号，推挽信号和反射率等特性，满足国内高密度磁光盘生产过程中光学特性测试、质量控制的要求。该系统测试磁光盘光学特性的各种电信号，频谱覆盖024MHz，同步时钟最高可达近50MHz，系统测试精度＜5%，重复性＜5%。该测试系统以虚拟仪器的结构为基础进行整体设计，包括微机、磁光盘驱动平台和数据采集卡三个部分。上述测试技术均可用于CD、VCD、CD－R、DVD－R、DVD－video等光盘的测试系统中，制作成上述光盘片质量测试仪，它可全面地对光盘片的加工质量及质量事故进行定量分析。光盘质量的测试装置不仅可用于生产线，检验部分，而且可用于技术监督部门等单位，尤其是DVD－video、DVR－R的出现和迅猛发展，对质量控制尤为重要。因此开发和生产光盘质量检测仪十分重要，具有十分可观的经济效益和社会效益。
