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[00150235]基于结构面产状及地质点坐标绘制地质平面图的方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 非专利

交易方式: 资料待完善

联系人:

所在地:

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本发明涉及绘图数据处理技术,目的是为了解决在少量地质点且地形复杂的情况下,现场勾绘的地质平面图中岩层界线、结构面迹线精度较低的问题。该方法具体实现过程如下:首先,选取结构面出露地质点并测量其坐标,根据出露点坐标确定结构面产状,之后用户输入地质点坐标后,系统通过该地质点沿结构面走向做第一辅助线。其次,背离倾向,做走向线的平行线,平行线间距为其中△H为等高线高差,β为结构面倾角。然后,根据等高线高程升高方向,确定等高线与第一辅助线的交点。最后,与倾向同向做走向线平行辅助线,平行辅助线间距与所述平行线间距相同,根据等高线高程降低方向,确定等高线与平行辅助线的交点,并连线,删除第一辅助线及平行辅助线。

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