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[00016853]基于ZnO薄膜的集成式中子探测器及其制备方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201510365453.9

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 牛刚

进入空间

所在地: 上海上海市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种基于ZnO薄膜的集成式中子探测器及其制备方法,首先制备ZnO薄膜光导型紫外探测器,并在其上采用射频磁控溅射法制备表面均匀,结晶质量和闪烁性能良好的B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜,从而为实现一种B、Ga共掺ZnO闪烁体薄膜/ZnO薄膜光导紫外探测器结构的中子探测器提供了方法。本发明中子探测器采用B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜作为中子转化层将中子转化成α粒子,α粒子进一步激发B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜产生紫外线,再利用ZnO薄膜光导型紫外探测器探测紫外线,从而实现中子探测。

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