[00018169]RFID标签响应频率基准测试系统及方法
技术详细介绍
摘要：本发明提供一种RFID标签响应频率基准测试系统及方法，该系统由标准测试环境、信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成，该方法是在保持输入能量相同的情况下，通过分析一款RFID标签产品在不同测试频带内的响应特性，得到待测试RFID标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过模拟读写器读RFID标签信号实现对RFID频率范围进行测试，可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。
