[00018302]一种光学元件表面的划痕检测方法和装置
技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种光学元件表面划痕的检测方法和装置。所述方法包括：对光学元件表面的图像二值化后，检测得到所述光学元件表面初步划痕的信息；对所述初步划痕的信息进行分组，每一组代表一条完整的划痕；根据分组后的初步划痕的信息得到每一条完整划痕的感兴趣处理矩形区域；根据所述每一条完整划痕的感兴趣处理矩形区域获取每一条完整划痕对应的精确划痕点集；对每一条完整划痕对应的精确划痕点集进行分段，并剔除每段中的干扰噪点；对每一条完整划痕中的所有点集与每一条完整划痕的精确划痕点集进行合并，并获取每一条完整划痕对应的划痕的信息，所述划痕的信息包括长度以及是否存在弯曲。本发明的方案抗噪声干扰能力，检测速度较快。
