X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00002765]一种近红外光谱仪及其测量方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410105844.2

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 许尔杰

进入空间

所在地: 江苏南京市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本发明公开了一种近红外光谱仪,包括光源、抛物面反射镜、闪耀光栅、数字微镜器件、线性探测器、单光子探测器、光谱信息处理系统;所述光源设置在抛物面反射镜的焦点处,光源经抛物面反射镜准直后投射到闪耀光栅上,经闪耀光栅在一级闪耀角上分开成单色平行光投射到数字微镜器件上;数字微镜器件中的微镜产生+12°和-12°的偏转,将单色平行光分别反射到线性探测器和单光子探测器上;光谱信息处理系统对该发明中两个探测器接收的光谱信息进行融合处理得到原始光谱信号的光谱强度。本发明还公开了一种近红外光谱仪的测量方法。本发明将单光子探测器引入到近红外光谱仪中,提高对微量物质和微弱光谱的检测能力、增加灵敏度和精度且结构简单。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467