[00002990]测量高温超导薄膜表面本征阻抗的谐振器装置及测量方法
技术详细介绍
本发明公开了一种测量高温超导薄膜表面本征阻抗的谐振器装置及测量方法，装置分为腔体部分与高度调节部分，腔体部分包括底板、铜腔、弹簧、下样品台、介质柱、上样品台、耦合线缆、自平行球以及磷铜压片，上样品台可以通过高度调节部分实现上下移动；高度调节部分包括金属固定板、金属杆、金属管、压电陶瓷和弹簧，所述压电陶瓷实现高度调整；所述腔体部分与所述高度调节部分通过聚乙烯杆和聚乙烯块相连；测量采用TE012和TE021模式，通过测量介质谐振腔的谐振频率与品质因数获得超导薄膜的本征表面阻抗。本发明提供的装置适用于任意厚度的高温超导薄膜，不仅可以测量高温超导薄膜有效表面阻抗，还能测量高温超导薄膜的本征阻抗。
