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[00020017]一种基于CFD‑DEM耦合模型的磨粒流场分析方法

交易价格: 面议

所属行业: 分析仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201610916446.8

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 林老师

进入空间

所在地: 浙江杭州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本发明公开了一种基于耦合模型的磨粒流场分析方法,包括以下步骤(1)建立并求解面向磨粒流加工的流体相控制方程组;(2)根据步骤(1)的求解结果,通过DEM理论求解磨粒运动方程;(3)根据磨粒运动方程,更新磨粒在流道中的位置,并求解新的体积分数以及磨粒受到的作用力;(4)结合新的流体体积分数以及磨粒受到的作用力,将其代入到步骤(1)中开始新一轮的计算;依照上述计算过程,不断循环更新每个磨粒的速度和位置,进而演化整个磨粒流加工系统,得到磨粒流运动规律。本发明将计算流体力学模型与离散元理论模型相结合的方法引入到磨粒流加工领域,能够实现对磨粒运动的精确分析,进而实现对磨粒流加工工艺参数的准确调控。

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