[00020502]一种扫描探针显微镜中的探针、其制备方法及探测方法
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201410494757.0
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
赵晓光
进入空间
所在地:
浙江宁波市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要:本发明提供了一种扫描探针显微镜中的探针。该探针由探针臂与针尖组成,针尖由针尖本体,以及依次位于针尖本体表面的薄膜一、薄膜二、薄膜三组成;薄膜一具有导电性;薄膜二具有电绝缘性;薄膜三具有磁性与导电性,或者薄膜三具有导电性;薄膜一与薄膜三的材料不同,并且薄膜一、薄膜二和薄膜三构成热电偶结构。利用该探针能够对多功能材料的磁、电、热多参量进行原位表征,从而能够原位、直观地研究材料的电-热、磁-热,以及磁-电-热之间的耦合规律与机制。