[00022150]一种颗粒粒度检测装置及检测方法
技术详细介绍
摘要：本发明提供一种颗粒粒度检测装置及检测方法，涉及测试技术领域。它包括：光源、调制单元、样品池、分光棱镜、筛选转换单元和计算单元；筛选转换单元分别筛选出平行和垂直于散射面的散射光分量，并转换成光能量数据，进行反演计算求解颗粒粒径分布信息。本发明解决了现有技术中颗粒粒度检测装置结构复杂、操作不方便、使用成本高的技术问题。本发明有益效果为：根据两个散射光分量的比值进行颗粒粒度反演，这样有效地降低了光路中空气和杂散颗粒的影响，提高了颗粒粒度测量可靠性。结构简单合理，制造成本低。操作简单，携带方便，适应在线检测。
