X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00022381]基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪及实现方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201310373360.1

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 唐老师

进入空间

所在地: 浙江杭州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪及实现方法,其设计了一种新型的颜色测量仪,所述颜色测量仪包括:光谱仪、光阱、拨片、光源、积分球、处理装置和拨片控制装置;所述拨片设置在光阱处,且涂覆与积分球内壁相同的白色漫反射涂料;光谱仪设置在垂直于样品法线的-8°的位置处,且光谱仪连接处理装置;光阱设置在垂直于样品法线的+8°的位置处。其通过控制拨片,可以兼容SCI和SCE两种几何测量结构,通过对样品表面SCI和SCE数据进行同时测量,可获得样品表面的光泽数据。另外,还建立了一种根据样品表面光泽数据对SCE测量数据进行修正的矫正模型,大大改善了测试结果之间的一致性,具有很好的推广应用前景。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467