[00024522]基于XRD优选硅质物料的方法及其应用
技术详细介绍
摘要：本发明提供了一种基于XRD优选硅质物料的方法及其应用。测定方法包括，研磨硅质物料；采用XRD衍射仪对所述的物料进行测试；计算其中石英(101)晶面衍射峰的绝对强度与总峰强的比值R；将XRD数据扣除CuKα2衍射，并去背底处理后绘图，得到石英(101)面衍射峰的峰位θX和半高宽Δθ，同时将XRD数据进行归一化处理，计算石英(101)面XRD衍射峰强度积分面积A；计算所述的硅质物料的惰性系数Ds，Ds＝R/(A*Δθ*COSθx)。本发明提供的测定方法，可用于对硅质物料的品质进行判定，有利于对物料进行合理选择。
