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[00301559]原位XAFS表征系统

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 已有样品

专利所属地:中国

专利号:

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 张如嫣

进入空间

所在地: 北京市北京市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

Deep Inspectra X1 是由北京中研环科科技有限公司研发设计的新一代专用于实验室级别的X射线吸收精细结构谱仪系统。该谱仪采用前沿的Rowland结构设计,可使得实验室研究人员进行简单、便捷的XAFS测试,实现机时自由

【成果编码】20261916

【单位性质】企业

【企业类别】高新技术企业,专精特新中小企业,科技型中小企业

【统一社会信用代码】91110106062810703G

【是否是首展首发】国内首发

【是否有意愿在安徽落地转化】是

【意愿落地城市】合肥市

【期望参展板块】新兴产业壮大展区/人工智能

【技术水平】国内领先

【是否有自主知识产权】是

【项目阶段】量产推广

【已应用场景】各大高校实验室、科研所

【潜在应用场景】各大高校实验室、科研所

【对接倾向】高校

【展品联系人】张如嫣

【展品联系人手机号】19355272340

【展示方式】实物

【展品长度】140

【展品宽度】124

【展品高度】200

【展品重量】900

【参展要求】需要接电220V 小于等于 3kW ,空开要求 C40 以上,电路电线要求 6 平方以上,自行安装

【实物确认】是

【状态】已审核,待遴选

【参展状态】线下+线上参展

【用户回复】是

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