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[00301672]抗单粒子辐射SiC平面栅MOSFET芯片

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 已有样品

专利所属地:中国

专利号:

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 万晶晶

进入空间

所在地: 安徽省芜湖市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

相比于传统硅(Si)材料,第三代半导体碳化硅(SiC)具有宽禁带、高临界击穿电场、高电子饱和漂移速度以及高热导率等优良的物理和电学特性。其中宽禁带特点带来更高的临界位移能和更低的本征载流子浓度,因此SiC基功率芯片具有优异的抗辐射特性,在航空航天领域有着广阔的应用价值。 具体的,SiC基功率芯片可应用于航天器配电系统和电推进系统,能显著提高系统可靠性,简化散热设备体积和重量,降低发射成本并增加装载容量。在宇宙空间的高辐射环境下,需要重点解决以单粒子效应为代表的辐射损伤问题,提升SiC功率芯片的抗单粒子能力,即芯片在低阻断电压下发生的单粒子漏电退化等。 本展品为自主设计并研发制造的具有高单粒子可靠性的SiC平面栅MOSFET晶圆级芯片。通过深线性梯度掺杂、裂栅集成NPN结构以及复合缓冲层等多种抗辐射加固设计,在83.5MeV·cm2/mg的Ta离子辐射下,将芯片的漏电退化阈值从250V提升至350V,提高幅度约40%,是迄今为止报道的高压SiC平面栅MOSFET的最佳性能。本单位所研制的1200V该系列SiC抗辐射芯片已搭载天舟六号货运飞船进入空间站,进行空间搭载试验验证。截至目前,已在低轨道卫星上正常工作一年,芯片性能未发生退化。

【是否是首展首发】:否

【是否有意愿在安徽落地转化】:是

【期望参展板块】:科技服务业展区(除科技金融)

【技术水平】:国际先进

【展示方式】:实物

【成果编码】:线下补报

【单位性质】:科研院所

【统一社会信用代码】:12340200MB1431478J

【意愿落地城市】:芜湖

【成果领域】:新一代半导体

【荣誉与获奖】:无

【是否有自主知识产权】:是

【项目阶段】:工程样机/样品

【已应用场景】:航天器配电系统和电推进系统

【潜在应用场景】:太空探测器、卫星电子系统等

【合作诉求】:合作开发

【服务诉求】:验证与中试

【对接倾向】:企业

【金融诉求】:VC投资

【人才诉求】:无

【展品联系人】:韩超

【展品长度】:15

【展品宽度】:15

【展品重量】:0.1

【参展要求】:暂无

【实物确认】:是

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