[00301672]抗单粒子辐射SiC平面栅MOSFET芯片
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
已有样品
专利所属地:中国
专利号:
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
万晶晶
进入空间
所在地:
安徽省芜湖市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
相比于传统硅(Si)材料,第三代半导体碳化硅(SiC)具有宽禁带、高临界击穿电场、高电子饱和漂移速度以及高热导率等优良的物理和电学特性。其中宽禁带特点带来更高的临界位移能和更低的本征载流子浓度,因此SiC基功率芯片具有优异的抗辐射特性,在航空航天领域有着广阔的应用价值。 具体的,SiC基功率芯片可应用于航天器配电系统和电推进系统,能显著提高系统可靠性,简化散热设备体积和重量,降低发射成本并增加装载容量。在宇宙空间的高辐射环境下,需要重点解决以单粒子效应为代表的辐射损伤问题,提升SiC功率芯片的抗单粒子能力,即芯片在低阻断电压下发生的单粒子漏电退化等。 本展品为自主设计并研发制造的具有高单粒子可靠性的SiC平面栅MOSFET晶圆级芯片。通过深线性梯度掺杂、裂栅集成NPN结构以及复合缓冲层等多种抗辐射加固设计,在83.5MeV·cm2/mg的Ta离子辐射下,将芯片的漏电退化阈值从250V提升至350V,提高幅度约40%,是迄今为止报道的高压SiC平面栅MOSFET的最佳性能。本单位所研制的1200V该系列SiC抗辐射芯片已搭载天舟六号货运飞船进入空间站,进行空间搭载试验验证。截至目前,已在低轨道卫星上正常工作一年,芯片性能未发生退化。
【是否是首展首发】:否
【是否有意愿在安徽落地转化】:是
【期望参展板块】:科技服务业展区(除科技金融)
【技术水平】:国际先进
【展示方式】:实物
【成果编码】:线下补报
【单位性质】:科研院所
【统一社会信用代码】:12340200MB1431478J
【意愿落地城市】:芜湖
【成果领域】:新一代半导体
【荣誉与获奖】:无
【是否有自主知识产权】:是
【项目阶段】:工程样机/样品
【已应用场景】:航天器配电系统和电推进系统
【潜在应用场景】:太空探测器、卫星电子系统等
【合作诉求】:合作开发
【服务诉求】:验证与中试
【对接倾向】:企业
【金融诉求】:VC投资
【人才诉求】:无
【展品联系人】:韩超
【展品长度】:15
【展品宽度】:15
【展品重量】:0.1
【参展要求】:暂无
【实物确认】:是