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[00303043]晶圆(AOI)检测设备

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 可以量产

专利所属地:中国

专利号:

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 汪婧

进入空间

所在地: 安徽省合肥市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本设备搭载AI智能检测算法,可对封装芯片及未封装晶圆进行高精度外观检测,能够准确识别多种缺陷类型,包括坏簇、异物、划伤、异色、Pad脏污、崩边等。系统可提供缺陷的详细位置坐标与尺寸信息,并支持高倍率复检(Review),确保缺陷识别与定位的精确性。

【是否是首展首发】:国内首发

【是否有意愿在安徽落地转化】:是

【期望参展板块】:新兴产业壮大展区/高端装备制造

【技术水平】:国内先进

【展示方式】:实物

【成果编码】:2026D4338

【单位性质】:其他

【企业类别】:高新技术企业

【统一社会信用代码】:91340100MA8L8Q6Y15

【意愿落地城市】:合肥市

【成果领域】:高端装备制造

【是否有自主知识产权】:是

【项目阶段】:量产推广

【已应用场景】:已应用在高德红外厂区

【潜在应用场景】:晶圆AOI(自动光学检测)设备是半导体产业链的核心质检装备,凭借非接触式、高精度、高速全自动检测优势,可实现微米至纳米级缺陷识别与尺寸量测,贯穿晶圆制造、芯片封装、成品出厂全流程,同时覆盖第三代半导体、MEMS、先进封装等新兴领域。以下按前道晶圆制造、中道切割减薄、后道封装测试、新兴细分领域、质量管控与溯源五大维度,全面梳理其潜在应用场景,明确各场景核心需求与价值。

【对接倾向】:企业

【展品联系人】:周静

【展品联系人手机号】:18756280960

【展品长度】:190

【展品宽度】:190

【展品高度】:200

【展品重量】:1500

【参展要求】:需要接电接气 自行拆装

【实物确认】:是

【参展状态】:线上参展

【用户回复】:是

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