[00031222]星载激光测高仪在轨检校方法及系统
技术详细介绍
本发明提出一种星载激光测高系统在轨检校方法及系统，在现有的在轨检校方法的基础上，根据已知地表先验模型，建立星载激光测高仪的测距模型；基于测距模型，建立系统误差与测距残差的关系； 利用实测距离值与测距模型计算距离值生成测距残差，利用测距残差实现了对测高系统系统误差中的装配误差及测距误差的在轨检校。本发明技术方案能够很好地检校系统误差，避免了姿态机动。
本发明提出一种星载激光测高系统在轨检校方法及系统，在现有的在轨检校方法的基础上，根据已知地表先验模型，建立星载激光测高仪的测距模型；基于测距模型，建立系统误差与测距残差的关系； 利用实测距离值与测距模型计算距离值生成测距残差，利用测距残差实现了对测高系统系统误差中的装配误差及测距误差的在轨检校。本发明技术方案能够很好地检校系统误差，避免了姿态机动。
