[00034090]基于光学显微层析成像垂直扫描原理的金刚石砂轮表面形貌在位测量与分析方法研究
技术详细介绍
1.适于金刚石砂轮在位测量和分析的系统。通过基于光学显微层析成像垂直扫描测量原理，获取被测表面的系列层析图像，系统可通过变倍适应被测砂轮的粒度和精度要求、具有自动获取扫描范围和自适应扫描、大范围面扫描、非接触等特点，结构紧凑适于在位三维测量。
2.通过表面形貌深度上的二维系列层析图像分析，实现二维磨粒的提取、几何特征描述、模式分类等与磨损和加工密切相关的二维特征分析，结合精密移位步长实现磨粒体积、孔隙体积等累积量计算，实现用于监测磨损程度和一致性的相关分析。通过二维图像系列恢复三维表面形貌，并实现三维金刚石磨粒识别、完成三维分析。
