[00035526]溶液自组装有机小分子薄膜的原位晶格结构表征
技术详细介绍
采用溶液法制备的薄膜，尤其是取向生长的薄膜，通常呈现面外或面内的取向生长特征。这种取向生长在有机材料中更为普遍，而且可以通过分子结构设计，结合溶剂选择与衬底修饰等工艺技术手段实现对晶格结构的控制和调节。对于薄膜晶格结构的表征是进行薄膜材料性能研究的基本手段。现有的对于薄膜材料晶相结构的表征方法，主要有X射线衍射分析法（XRD）和透射电子显微镜（TEM）。其中，基于电子衍射的TEM要求样品足够薄，往往需要复杂的样品制备程序，不能及时原位表征；而同步辐射X射线面内衍射技术，具有表面灵敏的优点，但是探测深度不足，并且需要预先获取薄膜的外全反射角（c），对光学系统的精度和样品的定位精度要求高。针对以上现有技术的不足之处，提出了薄膜取向结晶生长的X射线衍射原位表征方法，降低了对X射线源的要求，突破了产业化的瓶颈。
