交易价格: 面议
所属行业: 微电子
类型: 专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:200580049186.9
交易方式: 完全转让
联系人: 张耀伟
所在地: 辽宁沈阳市
一种测试电路,包括:多个被测量晶体管,电性地并联设置;选择部,依次选择各个被测量晶体管;以及输出部,依次输出选择部所依次选择的被测量晶体管的源极电压。
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