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本实用新型公开了一种大米谷粒外观易检器,包括检测控制主机,所述检测控制主机背面设有进料初筛斗,所述检测控制主机上表面设有参数设置器,所述检测控制主机正面设有旋转分料机,所述旋转分料机内壁连接有图像采集器,所述图像采集器底部设有位移传感器,所述位移传感器底部设有出料口,所述承接底柜右侧设有磁力电机,所述磁力电机上表面控速阀门,所述控速阀门上表面设有固定环扣,所述检测控制主机背面设有物料传输带,所述检测控制主机左侧设有密封盖,所述密封盖底部设有重力分离斗,所述重力分离斗底部设有物料存放柜。该种大米谷粒外观易检器结构简单,功能实用,能满足食品生产行业对大米谷粒外观易检器的实用需求。