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[00038615]一种光学相干层析变形场降噪方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710129325.3

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 厦门立德软件公司

进入空间

所在地: 福建厦门市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本发明公开了一种光学相干层析变形场降噪方法,在相位对照谱域光学相干层析技术的基础上结合了模糊逻辑的方法,通过对测量结果提取特征参数,并进行模糊推理和判断,对样件的截面轮廓以及样件内部的变形场进行降噪,使截面轮廓更加清晰,变形场分布更加细致。计算干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z);根据干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z)计算特征参数C1、C2、C3和C4;对特征参数C1、C2、C3和C4进行模糊化处理得到模糊化特征参数Cn1、Cn2、Cn3和Cn4;对模糊化特征参数进行判断,输出O1和O2;计算降噪后的输出幅值Ae(y,z)和输出相位差Δφe(y,z);根据输出幅值Ae(y,z)和输出相位差Δφe(y,z)解调出降噪后的变形场。

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