X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00038626]一种高精密光栅尺快速测量装置及其方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410175405.9

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 厦门立德软件公司

进入空间

所在地: 福建厦门市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本发明是一种高精密光栅尺快速测量装置及其测量方法。测量装置包括有CMOS/CCD传感器阵列、光学放大系统、平行光光源、带有绝对式编码和增量式编码的绝对式光栅尺、指示光栅尺、对射传感器、FPGA驱动单元、DSP数据处理单元、校正补偿单元。本发明双码道光栅尺的绝对编码通过光学放大系统放大并成像到CMOS/CCD传感器阵列上,在快门速度足够快的条件下,由FPGA驱动单元有序逐个驱动CMOS/CCD传感器阵列来快速采集并获得图像,通过图像中的绝对编码解码出一个绝对位置距离,并通过增量码来获得一个带误差的增量距离,最终,综合两个测量距离获得一个高精度的位置信息。本发明是利用振动补偿来获得清晰的图像,并通过图像和计数来实现高精度的位移测量。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467