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[00004576]斜视滑动聚束SAR的子孔径波数域成像方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201510052130.4

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 孔老师

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所在地: 江苏南京市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种斜视滑动聚束SAR的子孔径波数域成像方法,针对斜视情况对传统滑动聚束SAR子孔径法进行了改进。首先将全孔径重叠划分子孔径,将适用于斜视情况的扩展波数域方法作为子孔径基本成像方法,然后在距离多普勒域采用改进的BAS方法完成方位向处理并实现子孔径拼接,得到斜视情况下的全孔径图像。本发明克服了斜视滑动聚束SAR存在的数据量大、方位多普勒中心非零、以及多普勒带宽过大的问题,具有较大的实用价值。

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