X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00043517]一种光学干涉条纹快速处理方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410442467.1

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 桂林电子科技大学

进入空间

所在地: 广西壮族自治区桂林市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本发明通过二维连续小波分析方法,针对数字干涉图,设计基于可编程逻辑器件的高速干涉条纹相位提取算法。本发明利用二维快速傅立叶变换实现二维连续小波变换(2D-CWT),给出干涉条纹相位提取快速实现算法的FPGA实现,在实现中能对2D-CWT的缩放因子和旋转因子等参数的设置,以及对不同母小波(核函数)的选择。本发明对基于二维连续小波变换的光学干涉条纹相位提取技术具有重要意义,可为基于干涉图分析的光学测量技术在工业领域的应用提供有效可靠的分析方法。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467