[00044080]一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法
技术详细介绍
本发明公开了一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法，其特征在于，包括以下步骤S1.建立数字微流控芯片的灾难性故障测试模型；S2.得到初步测试路径并设置最大最小蚁群算法的初始信息素上下界和信息素初始值；S3.
本发明公开了一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法，其特征在于，包括以下步骤S1.建立数字微流控芯片的灾难性故障测试模型；S2.得到初步测试路径并设置最大最小蚁群算法的初始信息素上下界和信息素初始值；S3.
