联系人: 哈尔滨工业大学
所在地: 黑龙江哈尔滨市
摘要:反斯托克司性质荧光随动针孔微结构角谱扫描测量装置属于超精密三维微细结构表面形貌测量领域,主要涉及一种反斯托克司性质荧光随动针孔微结构角谱扫描测量装置;该装置设置有角谱扫描照明光路和荧光随动针孔探测光路,并采用反斯托克司性质荧光物质;这种设计,不仅可以避免现有会聚光束照明技术导致的某些区域无法照明或复杂反射的问题,有效解决探测信号强度衰减和背景噪声增强,造成的测量精度降低,甚至无法测量的问题,而且可以实现每个CCD相机像素前均有对应的荧光针孔存在,从而使得荧光随动针孔与CCD相机像素之间无需进行精密装调,同时可以采用具有一定穿透能力的近红外激光器,并使得CCD相机具有更广泛的选择。