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[00046148]基于可溯源精测尺的半导体激光器测距装置与方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410263595.X

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 哈尔滨工业大学

所在地: 黑龙江哈尔滨市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:基于可溯源精测尺的半导体激光器测距装置与方法属于相位激光测距技术,所述测距装置包括测尺生成单元、激光移频单元、扩束准直镜组、测量光路及电路单元;其测距方法包括步骤如下步骤一、开启频率基准激光器和半导体激光器;步骤二、一束作为参考激光束,另一束作为测量激光;步骤三、以作为精测尺;步骤四、以作为粗测尺;步骤五、移动测量棱镜至目标端,分别得到精测尺与粗测尺的相位差Φ1和Φ2,最后通过公式得到被测距离值;本发明解决了相位激光测距技术中缺少一种能兼顾大功率、多测尺同步性与可溯源性的激光测距装置与方法的问题,具有测距灵活性高、测量效率和测量精度高、稳定性和实时性强的特点。

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