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摘要:本发明涉及一种空间辐射环境下可编程SOC器件单粒子翻转检测系统及方法,为了解决现有单粒子翻转检测技术中片外控制器测量方式存在系统复杂度较高、总体体积较大、开发难度大等问题,而提供一种基于片内自检测的空间辐射环境下面向可编程SOC芯片单粒子翻转检测系统及检测方法。空间辐射环境下可编程SOC器件单粒子翻转检测系统,包括处理系统、可编程逻辑、Flash存储器以及DDR存储器,处理系统具有Flash存储器接口、DDR存储器接口以及配置回读接口,分别用于与Flash存储器、DDR存储器以及可编程逻辑连接;处理系统用于实现对可编程逻辑的配置回读功能和回读结果的对比验证功能。本发明适用于空间飞行器。