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[00046672]探针伺服角度控制方法及控制模块、基于该控制模块的成像系统及该系统的成像方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410783238.6

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 哈尔滨工业大学

所在地: 黑龙江哈尔滨市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:探针伺服角度控制方法及控制模块、基于该控制模块的成像系统及该系统的成像方法,涉及采用原子力显微镜进行微纳米结构表面扫描成像的技术。它为了解决传统的原子力显微镜无法对具有大倾角外斜表面、垂直侧壁表面、内斜表面等结构表面实现连续可控分辨率三维扫描成像的问题。本发明通过控制探针针针尖在YZ平面内实时沿与XZ表面成Φ角的矢量上接近样品表面进行扫描,Φ值可以自动根据已扫描的样品表面信息进行动态调节,以此实现不同角度的表面的等分辨率扫描,有助于提高对微纳米结构性能检测及检测效率,从而为超大规模集成电路和甚超大规模集成电路检测提供了一种重要的工具。

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