[00047115]一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法
技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法。目前电子元器件生产过程中的成品缺陷检测主要由人工完成，费时费力，不仅工作量大，而且易受检测人员主观因素的影响，容易造成误检和漏检，检测效率低，劳动强度大。如果在检测中操作不慎，还会对电子元器件造成二次损伤。本发明方法利用非接触式数字图像检测技术来提高电子元器件缺陷检测的效率，提出了一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法。本发明方法通过构造合格及各类缺陷样本库字典基，自适应的对电子元器件的表面缺陷进行自动检测，并对缺陷类别进行自动判别，可以很好的克服人工目测检测方法的不足。
