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本实用新型涉及芯片测试附属装置的技术领域,特别是涉及一种芯片测试用夹具;其可成批量对芯片进行固定并能对芯片实行集体翻转,不需人工进行单一翻转,效率更高;包括操作台,还包括旋转盘、放置盘、步进电机、转轮、转轴和环形滑轨,转轮上设置有多组第一直齿,旋转盘底端设置有环形凹槽,旋转盘上设置有第二直齿,放置盘上设置有多组均匀分布的盛放槽,盛放槽内均设置有两组前伸缩杆和两组后伸缩杆,两组前伸缩杆后端设置有前固定板,两组后伸缩杆前端设置有后固定板,前固定板后端设置有前卡槽,后固定板前端设置有后卡槽,两组前伸缩杆和两组后伸缩杆上均设置有弹簧,还包括前转轴和后转轴。