交易价格: 面议
所属行业: 自动化元件
类型: 发明专利
专利所属地:
专利号:CN201810036773.3
交易方式: 完全转让
联系人:
所在地: 天津天津市
本发明提供一种半导体垂直结构和半导体器件的制造方法,至少在半导体材料层的表面上覆盖一金属催化剂层后,再以所述图案化掩膜为掩膜,在金属催化剂层的催化作用下对所述半导体材料层进行刻蚀,以形成半导体垂直结构,能够较为精确地控制形成的半导体垂直结构的关键尺寸,改善半导体垂直结构的线条粗糙度,进而提高具有该半导体垂直结构的半导体器件的性能,适用于微米级或纳米级的半导体垂直结构的制造。
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