交易价格: 面议
所属行业: 电子元器件
类型: 发明专利
专利所属地:
专利号:CN201810300763.6
交易方式: 完全转让
联系人:
所在地: 天津天津市
本发明揭示了一种晶圆级芯片封装结构及其制作方法,制作方法包括在晶圆上芯片的钝化层中形成第一凹槽和第二凹槽,第一凹槽暴露出金属垫,第二凹槽围绕第一凹槽,并在此基础上形成凸点下金属层和凸点。借助于围绕在第一凹槽周围的第二凹槽,使得刻蚀时,降低了沿芯片表面对第一金属层的侵蚀,并且凸点在回流后能够进入第二凹槽,从而提高剪力,防止脱落,可以确保凸点的大小,获得高质量的凸点。
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