交易价格: 面议
所属行业: 分析仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201010241269.0
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 华中科技大学
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所在地: 湖北武汉市
摘要:本发明提出了一种磁盘阵列多级容错方法,通过三级容错方式解决有效解决目前常见阵列错误:第一级容错为扇区级容错,有效预防磁盘本身不能容错的扇区失效;第二级容错即采用数据迁移级容错,防止磁盘可靠性降低带来的失效;第三级应用并行重构方式快速修复阵列中的磁盘失效。本发明通过三级容错策略提高了基于阵列的存储系统的可靠性,同时系统性能也得到了保障。
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