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[00050973]一种基于极化毫米波辐射的获取目标表面方位信息的方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201510426471.3

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 华中科技大学

进入空间

所在地: 湖北武汉市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种基于极化毫米波辐射的获取目标表面方位信息的方法;通过在无极化辐射环境中分别以三种不同的天线极化旋转角度对包含目标的场景进行成像,得到目标的亮温图像;再计算每个表面的平均亮温值;然后将每个表面的三种不同天线极化旋转角度及其相应的平均亮温值代入曲线方程中,求解出每个表面的表面方位信息角;最后根据表面方位信息角再次对目标进行成像,得到新的亮温图像,进而结合表面方位信息角的终边方向上的亮温变化趋势以及判断原则,得到每个表面的法向量的方位角。本发明能非接触、被动、高精度地获取目标表面的方位角信息,为目标的检测与识别提供更多的有用信息。

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