交易价格: 面议
所属行业: 检测仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN200910273200.3
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 华中科技大学
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所在地: 湖北武汉市
摘要:本发明公开了一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法,其特征在于,该方法包括下述步骤为:第1步以TlBr为原料,配制Tl(III)的母液,母液中含Tl(III)量为1~3mg/mL;第2步以母液1mL计,在1mL母液中加入10mL浓度为3.6~8.1mol/L的HBr和10~35mL的异丙醚,振荡均匀,静置分层后分离出水相;第3步利用电感耦合等离子体质谱仪测量水相中各杂质的含量。本发明方法可使溴化铊材料中的基体元素铊的含量达到ICP-MS的测试要求,检测出材料中的各杂质的含量。
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