交易价格: 面议
所属行业: 检测仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201610145861.8
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 华中科技大学
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所在地: 湖北武汉市
摘要:本发明公开了一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法。基于硅基液晶在同样的偏置电压下,对不同波长入射光有不同的相位调制的特性,对在硅基液晶波长工作范围内的光信号实现分析与监测,并能在入射光波长未知的条件下,对该波长进行测量,并能随着相位调制精度的提高,提高波长的分辨精度。本发明元件少,系统结构简单紧凑,对光路的准直要求不高,无需苛刻光路的耦合与复杂操作就能进行波长的分辨,并且有着与入射光偏振态无关的特性,在分辨出波长的同时,还能对入射光束的偏振态进行测量,适用范围更广。
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