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[00051059]一种基于波矢测量的红外成像探测芯片

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201310443095.X

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 华中科技大学

进入空间

所在地: 湖北武汉市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种基于波矢测量的红外成像探测芯片,包括面阵红外折射微透镜、面阵非制冷红外探测器和驱控预处理模块;其中,面阵非制冷红外探测器位于所述面阵红外折射微透镜的焦面处,被划分成多个阵列分布的子面阵非制冷红外探测器,每个子面阵非制冷红外探测器包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的光敏元;面阵红外折射微透镜包括多个阵列分布的单元红外折射微透镜,每单元红外折射微透镜与一个子面阵非制冷红外探测器对应。本发明的红外成像探测芯片可测量的红外波矢方向的变动范围大,测量精度高,结构紧凑,环境适应性好,易与常规红外光学系统、电子和机械装置匹配耦合。

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