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[00051230]一种椭偏仪系统参数的优化方法

交易价格: 面议

所属行业: 分析仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201310302341.X

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 华中科技大学

进入空间

所在地: 湖北武汉市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种椭偏仪系统参数优化方法,包括首先建立待优化椭偏仪的系统模型,并得到包含椭偏仪系统参数的矩阵W;然后计算椭偏仪系统矩阵W在不同椭偏仪系统参数下的条件数;再次计算出每个椭偏仪系统参数下矩阵W条件数的最大值与最小值的差值,并按差值从大到小顺序排列;最后根据差值的排列顺序,优化每个椭偏仪系统参数,重复n次优化后,选取排列最前的系统参数,求得其n次优化后最小条件数值与第n-1次优化时矩阵W最小条件数值之间的差值,当差值大小满足要求时,则认为第n次优化后的椭偏仪系统参数为当前椭偏仪的最优系统参数。本发明方法过程明确、简单,最优参数的选定标准灵活可变,可以适用于现有不同结构类型的椭偏仪的优化。

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